STIL供光学仪器 同轴测量仪器 透明材质测量仪器 皮米分辨率激光干涉仪
stil duo ---双重技术“点”传感器
提供两种同时测量技术的系统：光谱共焦原理 和 具备原始共焦设置的白光干涉原理。
stil的光谱共焦原理可测量范围从130μm到42mm。非常适用于粗糙度和表面形貌测量，在任何类型的材料上都可获得非常高的精确度，无论是反射还是散射。测量符合新iso25178标准。
stil的共焦光谱干涉测量法，可获得亚纳米分辨率（<1nm）的厚度和形貌测量结果，可在大于100μm的测量范围内进行测量，且样品的可测厚度为0.4μm。
完美适用于工业环境，许多输入和输出以及软件开发套件，接口非常简单。
stil duo白光光谱干涉模式：
振动不敏感（opilb-rp光学笔）
高信噪比（opilb-rp光学笔）
不需垂直扫描
可测厚度0.4μm
光学原理固有的亚纳米分辨率
共焦使相邻点之间无干扰，
厚度测量上具有***性能（0.3nm分辨率，10nm精度）
stil duo光谱共聚焦模式
使用multipeak软件进行多层样品测量
司逖测量技术（上海）有限公司是法国stil公司在中国的销售公司。法国stil公司为全球各行企业提供高性能的光谱共焦位移传感器（chromatic confocal）已经超过20年。 为应对公司在中国市场快速增长的需求，2016年stil成立了中国销售公司，即司逖测量技术（上海）有限公司，公司在华东上海浦东新区及华南的东莞长安分别设有办公室，两地均交通便捷、物流发达，为中国客户提供优质的售前及售后服务。
作为光谱共焦传感器的发明者及全球领先者，法国stil公司基于这一创新的技术开发了两个系列的产品：从0.1μm到100mm测量行程的点光谱共焦传感器、从1.8mm到45mm线长的不同测量行程的线光谱共焦传感器。
这些高分辨率的非接触式传感器运用于各种不同要求的高精密测量场合。从物体表面细微结构、形状及纹理粗糙度的测量分析，到工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程，及实验室研究场合的高精度设备，法国stil光谱共焦传感器都成了众多客户不可或缺的选择。
法国stil光谱共焦位移传感器为全球各行业（可应用行业范围：玻璃、医疗、电子、半导体、汽车、航空航天、制表业…等）企业提供高性能的光谱共焦位移传感器。任何材料的物体，如金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等，stil光谱共焦传感器都可轻松测量，而且对被测物体表面的颜色和光洁度也没有任何特殊要求，无论什么颜色，物体表面是漫反射或者高光面，乃至于镜面，stil光谱共焦传感器都可以轻松测量。
