涂层厚度检测传感器 STIL测量供 纳米级测量仪器 同轴测量仪器 透明材质测量仪器
stil-vizir
高精度的解决方案，非接触式晶片厚度测量
近红外光谱bande
（测量频率）高达1k hz
距离和厚度模式
数字输出：usb和rs232 / rs422
2个0v-10v的模拟输出
同步读取3个外部数字编码器
由于特定的厚度校准，提高了厚度模式下的性能
长寿命光源
功能：“双倍频率”，时间平均......
配置灵活：选择适合您的控制器，光学笔和光纤电缆。
测量范围选择多（100um - 20 mm）
满足特定要求的光学笔的选择多（“内窥镜”/ 射线笔/ 大工作距离/ 陡坡/ 小光点尺寸/ 经窗口测量...）
司逖测量技术（上海）有限公司是法国stil公司在中国的销售公司。法国stil公司为全球各行企业提供高性能的光谱共焦位移传感器（chromatic confocal）已经超过20年。 为应对公司在中国市场快速增长的需求，2016年stil成立了中国销售公司，即司逖测量技术（上海）有限公司，公司在华东上海浦东新区及华南的东莞长安分别设有办公室，两地均交通便捷、物流发达，为中国客户提供优质的售前及售后服务。
作为光谱共焦传感器的发明者及全球领先者，法国stil公司基于这一创新的技术开发了两个系列的产品：从0.1μm到100mm测量行程的点光谱共焦传感器、从1.8mm到45mm线长的不同测量行程的线光谱共焦传感器。
这些高分辨率的非接触式传感器运用于各种不同要求的高精密测量场合。从物体表面细微结构、形状及纹理粗糙度的测量分析，到工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程，及实验室研究场合的高精度设备，法国stil光谱共焦传感器都成了众多客户不可或缺的选择。
法国stil光谱共焦位移传感器为全球各行业（可应用行业范围：玻璃、医疗、电子、半导体、汽车、航空航天、制表业…等）企业提供高性能的光谱共焦位移传感器。任何材料的物体，如金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等，stil光谱共焦传感器都可轻松测量，而且对被测物体表面的颜色和光洁度也没有任何特殊要求，无论什么颜色，物体表面是漫反射或者高光面，乃至于镜面，stil光谱共焦传感器都可以轻松测量。