X射线荧光测厚仪
牛津仪器CMI900 无损电镀膜厚测量仪，专业测量金、银 钯 銠 镍 铜 锡 等贵金属多镀层膜厚测量，快速 精准 无损，业内广受好评，客户应
用广泛在 五金 连接器 PCB LED支架等行业以形成行业测量的标准。欢迎广大五金连接器客户联系 测量量样品 洽谈往来 本公司经营多年工程师经验丰富，商业合作个方式灵活。
金属镀层厚度测量， 例如Zn；Cr； Cu； Ag； Au；Sn等 合金(两样金属元素)镀层厚度测量， 例如： SnPb； ZnNi； 及NiP(无电浸镍)在Fe上等
合金(三檬金属元素)镀层厚度测量， 例如： AuCuCd在Ni上等
双镀层厚度测量， 例如：Au／Ni在Cu 上； Cr／Ni在Cu上；Au／Ag在Ni上；Sn／Cu在黄铜上等
双镀层厚度测量(其中一层是合金层)， 例如： SnPb／Ni或Au／PdNi在青铜上等
三镀层， 例如： Cr／Ni／Cu在塑胶或在铁上
PCB LED 连接器等行业 gold flash/ Nip / Cu 或 Au / Pdni / Cu
~~ Ag / Ni / Cu / Ni / Cu 等常见应用
采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，故能使大量的检测工作经济地进行。以下分别介绍几款常规测厚仪器。
在电镀原料价格飞涨的今天 无损金属镀层测厚仪 是提高产品品质，降低产品成本的理想选择。