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FLDT系列半导体激光器参数测试仪

 
规格1: 规格1未填写
规格2: 规格1未填写
规格3: 规格1未填写
单价: 面议
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发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
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有效期至: 2013-11-20 [已过期]
最后更新: 2013-06-06 09:56
浏览次数: 1061
 
公司基本资料信息
详细说明

一、简要描述
FLDT系列半导体激光器(LD)参数测试仪是测量半导体激光器主要性能参数和特性指标的仪器。通过给受试LD提供不同的工作电流,采集不同工作条件下受试LD的各种参数信号,计算得出该LD的光电转换特性、伏安特性、光谱特性、远场/近场特性和热特性。打印测试报告,保存数据。
 二、应用
LD参数测试仪系列产品测试光功率范围从0.1mW-1000W以上,光谱测试范围从600-1700nm,根据器件封装形式的不同选择不同的夹具,包括: TO系列、COS 、C-MOUNT、BAR系列、光纤输出系列等等。同时可以根据不同行业的需要进行设计,满足科研、生产、教学等需要。
三、特点
系统按功能模快化, 采用单片机控制, 性能稳定可靠,维修使用方便;
测试功率覆盖范围宽:0.1mW~1000W以上;
测试封装类型:TO系列、光纤输出系列、Bar系列、管芯系列以及各种组件等等;
高质量的LD驱动电源:既可连续工作,又可脉冲工作,具有LD过流保护功能,低噪声、无浪涌和过脉冲;
自动化程度高:整个测试、数据采集和数据处理、显示及打印都由系统自动完成;
操作简单、测量速度快。
四、功能/技术指标
系统主要功能包括测量LD的光电特性(LI和LIM)、伏安特性(IV)、光谱特性(SP)、远场特性(FF)、近场特性(NF)和热特性(T),具体如下:
进行LIV和LI测试,绘制LIV曲线和LIM曲线,检测、推算工作电流、输出光功率、工作电压、阈值电流、功率效率、斜率效率、微分电阻、背光电流等参数;
进行光谱测试:绘制光谱曲线,推算峰值波长、光谱谱宽;
进行远场测试: 绘制远场曲线,推算水平发散角、垂直发散角;
进行热阻测试;
测试数据能够保存、导入,可打印标准测试报告。
可测量参数:
IO
工作电流
Ith 
阈值电流
PO
输出光功率
ES
斜率效率
VO
工作电压
EP
功率效率
Rd
微分电阻
λp
激光峰值波长
IM
背光电流
Δλ
波长宽度
θ∥
远场水平发散角
θ⊥
远场水平发散角
Rth
热阻
   
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