薄膜挺度测定仪

RH-T50  薄膜挺度测定仪

  RH-T50 薄膜挺度测定仪是专门用于各种薄膜、不干胶、薄片、无纺布、纸张等材料抗弯曲性能检测的基本仪器。采用两点加荷，是一种高效且便于使用的仪器。

执行标准 ：

ISO5628、ISO 2493、TAPPIT556、GB/T22364、GB/T23144、QB/T1051 

技术参数：

测量范围：(0-500)mN或(0-25)mN.m

分辨力：0.01mN

准确度：±1%

试验速度：300º/min 或 200 º/min

负荷力臂长：5～50mm 可调

弯曲角 ：  0～90º可任意设定（常用15º）

外形尺寸：330×340×290mm

质量：约14kg

电源：AC220V，50Hz

产品特点：

1、 采用高精度测力传感器，分辨力达0.01mN，准确度控制在<1%，优于标准规定的±2%。

2、 液晶中文显示，友好人机界面操作。全自动完成测试，具有测试数据统计处理功能,微型打印机输出，也可连接电脑操作。连接电脑时，除了可自动记忆储存结果外，还可以显示抗压曲线并保存。

3、仪器内置校准程序，可使用标准砝码或测力装置对仪器进行示值准确度校准。