芯片失效分析 芯片故障分析 IC分析 宜特检测
失效分析(Failure Analysis or FA)所提供的服务项目
提供客户咨询与讨论
提供客户做IC组件失效分析,EFA(电性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需资源与设备
提供客户一步到位的分析服务
提供第三者公证报告
可协助解决的故障分析的种类
ESD / Latch up / OLT / Pre -condition /Reliability 等测试后的失效分析服务
验退样品分析服务或对产品瑕疵原因之分析服务
C/P , F/T ,PCBA 等流程后之样品分析服
关于宜特:
iST宜特始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。
