西安高低温度冲击试验箱三箱式于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
温度冲击试验箱三箱式分为：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试
技术参数
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型号
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工作室尺寸:mm
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样品区尺寸:mm
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VT/WDCJ-162
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450×450×450
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300×300×250
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VT/WDCJ-340
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600×600×600
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450×450×360
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VT/WDCJ-500
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800×800×800
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650×650×500
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VT/WDCJ-1000
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1000×1000×1000
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850×850×700
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性
能
指
标
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温度范围
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A:-20℃～200℃
B:-40℃～200℃
C:-60℃～200℃
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温度波动
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高温室及低温室均≤±2℃
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样品区温度波动
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≤±0.5℃（恒温时）
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温度运行控制系统
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控制器
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日本进口UMC-1300真彩触摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微电脑集成控制器
韩国进口TEMI880真彩触摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微电脑集成控制器（选其一）
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精度范围
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设定精度：温度±0.1℃，指示精度：温度±0.1℃，解析度：±0.1℃
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制冷系统
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进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组/原装法国“泰康”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式
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循环系统
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耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮
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温度转换时间
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从低温区到高温区或从高温区到低温区≤5S
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温度恢复时间
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≤5min（与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关）
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温度冲击方法
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垂直两箱法 (两箱式冷热冲击试验箱 )
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以上为标准型试验箱，可根据用户的具体要求定做非标型
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本技术信息，如有变动恕不另行通知
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