艾思荔双层式HAST高压加速老化试验箱的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
双层式HAST高压加速老化试验箱产品规格：
温度范围：+100℃~+135℃
湿度范围：70%~100%RH
温湿度稳定度：±0.5℃、±3℃RH
温度分布均度：±1℃
压力范围：0.2~2.0kg/cm2G（选配0.2~4.0kg/cm2G）
升温时间：室温上升140℃需约120分钟
内箱尺寸：￠45×45/￠65×60
材质：内外不锈钢板
电源：1￠220V60HZ/380V50HZ20A
双层式HAST高压加速老化试验箱产品特点：
1、圆形横置式内槽结构设计方便使用者取置待测品
2、马达驱动磁性风扇机构循环（温度/湿度分布均匀佳）
3、安全程序自动停机,自动泄压,自动破真空,自动给水
4、设备本体材质SUS#316,外部包装材质SUS#304
5、电磁风扇马达循环装置湿度分布均匀
6、饱和或不饱和可程控模式
7、温度/湿度/湿球/温度/压力/电压显示
双层式HAST高压加速老化试验箱详细说明：
随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT（HAST）现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC（国际电工委员会）所标准化。